Minitab：組間/組內(nèi)能力分析

今天就跟大家聊聊有關(guān)Minitab：組間/組內(nèi)能力分析，可能很多人都不太了解，為了讓大家更加了解，小編給大家總結(jié)了以下內(nèi)容，希望大家根據(jù)這篇文章可以有所收獲。

組間/組內(nèi)能力分析

組間/組內(nèi)能力分析可同時根據(jù)子組間和子組內(nèi)變異生成過程能力報告。

〖例1〗某工程師從25個連續(xù)加工的紙卷中收集了3個涂層厚度測量值。對于每個新的紙卷，都要重置機器，因此工程師除了需要考慮紙卷內(nèi)的變異之外，還需要考慮各個紙卷之間的變異。薄膜厚度必須為50±3μm才能滿足工程規(guī)格。試進行組間/組內(nèi)能力分析。（薄膜厚度.MTW）。

一、打開工作表：“薄膜厚度.MTW”。

二、選擇【統(tǒng)計（Stat）】

→【質(zhì)量工具（QualityTools）】

→【能力分析（CapabilityAnalysis）】

→【組間/組內(nèi)（Between/Within）】菜單，打開能力分析（組間/組內(nèi)）

（CapabilityAnalysis (Between/Within)）主對話框

■【數(shù)據(jù)排列為（Dataare arranged as）】為【單列（Single column）】，并選擇“C1（涂層）”，【子組大?。⊿ubgroupsize）】為“C2（紙卷）”。

設(shè)定【規(guī)格下限（Lowerspec）】為47

【規(guī)格上限（Upperspec）】為53。

  三、選項（Options）對話框（見圖17-23）中，在【目標(biāo)（添加Cpm到表格）（Target(adds Cpm to table)）】中輸入目標(biāo)值50；【對能力統(tǒng)計量使用K×σ的公差（Usetolerance of K*sigma for capability statistics）】為6；【進行分析（PerformAnalysis）】選擇【組間/組內(nèi)分析（Between/withinanalysis）】和【整體分析（Overall analysis）】?！撅@示（Display）】選擇【百萬分之（Partsper million）】，并選擇【能力統(tǒng)計量（Cp、Pp）（Capabilitystats (Cp, Pp)）】。

    四、主要結(jié)果與分析

P_p、C_p均介于1～1.33之間，表明過程能力正常，但仍有改進的空間；P_pk、C_pk，表明分布中心稍有偏離，C_pm=1.18，表明數(shù)據(jù)較接近目標(biāo)值。紙卷涂層厚度的預(yù)期不合格率為194ppm，表明過程是有效的，見圖17-24。

看完上述內(nèi)容，你們對Minitab：組間/組內(nèi)能力分析有進一步的了解嗎？如果還想了解更多知識或者相關(guān)內(nèi)容，請關(guān)注億速云行業(yè)資訊頻道，感謝大家的支持。