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如何看待MRAM發(fā)展

發(fā)布時(shí)間:2021-10-15 10:08:19 來(lái)源:億速云 閱讀:116 作者:柒染 欄目:編程語(yǔ)言

本篇文章為大家展示了如何看待MRAM發(fā)展,內(nèi)容簡(jiǎn)明扼要并且容易理解,絕對(duì)能使你眼前一亮,通過(guò)這篇文章的詳細(xì)介紹希望你能有所收獲。

  MRAM是一種以電阻為存儲(chǔ)方式結(jié)合非易失性及隨機(jī)訪問(wèn)兩種特性,可以兼做內(nèi)存和硬盤(pán)的新型存儲(chǔ)介質(zhì)。寫(xiě)入速度可達(dá)NAND閃存的數(shù)千倍,此外,其制作工藝要求低,良品率高,可以很好的控制成本。在壽命方面,由于MRAM特殊的存儲(chǔ)方式,產(chǎn)品的壽命耐久性也遠(yuǎn)超傳統(tǒng)RAM。大規(guī)模普及仍面臨挑戰(zhàn)。

  毫無(wú)疑問(wèn),MRAM因其獨(dú)特的存儲(chǔ)方式在非易失性,寫(xiě)入速度,壽命等各方面均有優(yōu)勢(shì),然而能否被廣泛采用仍面臨一系列挑戰(zhàn)。

  一般來(lái)講,MRAM通常由三大部分組成:半導(dǎo)體基底,磁自旋隧穿結(jié)(MagneticTunnelJunction,MTJ)和磁發(fā)生器。產(chǎn)業(yè)調(diào)研報(bào)告《EmergingMemoriesRampUp》顯示,MRAM在廣泛推廣的過(guò)程中面臨的重要挑戰(zhàn)的原因是所使用的材料和工藝和傳統(tǒng)的CMOS制造不同。

性能壽命遠(yuǎn)超NAND,MRAM離大規(guī)模應(yīng)用還有多久?

  報(bào)告稱(chēng),目前,MRAM是在單獨(dú)的晶圓廠作為“后端生產(chǎn)線”(BEOL)工藝來(lái)生產(chǎn)的,需要一些傳統(tǒng)CMOS制造工藝沒(méi)有使用的新設(shè)備,諸如離子束蝕刻和新的濺射靶之類(lèi)。要想降低嵌入式MRAM產(chǎn)品的成本,其制造就需要進(jìn)入CMOS晶圓廠,成為常規(guī)器件生產(chǎn)的一部分。

  AppliedMaterials金屬沉積產(chǎn)品副總裁KevinMoraes稱(chēng),在MTJ結(jié)構(gòu)中,是由存儲(chǔ)層,隧道壁壘層和參考層等互相堆疊而成。這些堆疊材料中,有些作為阻擋作用薄膜層,這些阻擋層非常薄,很容易被破壞,因此如何精準(zhǔn)的沉積這些薄膜也十分重要。

  除三星一直積極推進(jìn)MRAM發(fā)展之外,英特爾也在今年上半年宣布已經(jīng)做好eMRAM芯片大批量生產(chǎn)的準(zhǔn)備。鎧俠也相繼發(fā)表多項(xiàng)MRAM相關(guān)專(zhuān)利,推動(dòng)技術(shù)發(fā)展。作為MRAM領(lǐng)先者的EVERSPIN供應(yīng)商仍致力于研發(fā)創(chuàng)新出新的產(chǎn)品提供給市場(chǎng)。

  報(bào)道稱(chēng),三星透過(guò)提升MTJ結(jié)構(gòu)的均一性,以減少阻抗值與記錄電流偏差,改良制程,減少會(huì)對(duì)MTJ造成不良影響的缺陷密度,實(shí)現(xiàn)容量和良率的提升。

隨著存儲(chǔ)設(shè)備朝著高集成度方向發(fā)展,MRAM小型化發(fā)展也面臨困難。

  目前,以MRAM為代表的新型存儲(chǔ)已經(jīng)發(fā)展到了關(guān)鍵階段,能否成為取代NAND閃存的下一代存儲(chǔ)介質(zhì)除了材料和工藝的不斷完善之外,構(gòu)建完善的器件技術(shù)生態(tài)系統(tǒng)也是十分關(guān)鍵的。相信在市場(chǎng)需求的引導(dǎo)以及各大廠商的推動(dòng)下,存儲(chǔ)產(chǎn)品一定朝著性能更高,容量更大以及成本更優(yōu)的方向發(fā)展。

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