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側(cè)漏

  • 移動(dòng)APP測(cè)試過程中對(duì)于BUG漏測(cè)的思考

    背景由于最近比較多暴露出來由于漏測(cè)導(dǎo)致在site測(cè)試階段才發(fā)現(xiàn)的bug，特別是一些涉及身份核查、認(rèn)證鑒權(quán)、支付、交易動(dòng)賬之類的問題，產(chǎn)生的后果是非常嚴(yán)重的。因此，對(duì)bug漏測(cè)進(jìn)行一些思考,并進(jìn)行總結(jié)。

    作者：itzhongxin
    2020-05-21 15:23:16