主板檢測卡代碼大全

一般來說代碼：FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也沒有表示CPU沒通過
    C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示內(nèi)存不過
   24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯卡不過
  某些集成顯卡主板23、24、25表示可以正常點(diǎn)亮，某些VIA芯片組顯示13則表示可以點(diǎn)亮，某些品牌機(jī)里的主板顯示0B則表示正常，某些主板顯示4E表示正常點(diǎn)亮，某些INTEL芯片組的主板顯示26或16則表示可以正常點(diǎn)亮。
   C1、C6、C3、01、02這個(gè)組合循環(huán)跳變大部分是I/0壞或刷BIOS
   如顯示05、ED、41則直接刷BIOS 00 . 已顯示系統(tǒng)的配置；即將控制INI19引導(dǎo)裝入。 .
01 處理器測試1，處理器狀態(tài)核實(shí),如果測試失敗，循環(huán)是無限的。 處理器寄存器的測試即將開始，不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失敗。
02 確定診斷的類型（正?；蛘咧圃欤?。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。 停用不可屏蔽中斷；通過延遲開始。 CMOS寫入／讀出正在進(jìn)行或者失靈。
03 清除8042鍵盤控制器，發(fā)出TESTKBRD命令（AAH） 通電延遲已完成。 ROM  BIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。
04 使8042鍵盤控制器復(fù)位，核實(shí)TESTKBRD。 鍵盤控制器軟復(fù)位／通電測試。 可編程間隔計(jì)時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。
05 如果不斷重復(fù)制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。 已確定軟復(fù)位／通電；即將啟動(dòng)ROM。 DMA初如準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。
06 使電路片作初始準(zhǔn)備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。 已啟動(dòng)ROM計(jì)算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 DMA初始頁面寄存器讀／寫測試正在進(jìn)行或失靈。
07 處理器測試2，核實(shí)CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT（基本保證測試）命令。 .
08 使CMOS計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備，正常的更新計(jì)時(shí)器的循環(huán)。 已向鍵盤發(fā)出BAT命令，即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。
09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過。 核實(shí)鍵盤的基本保證測試，接著核實(shí)鍵盤命令字節(jié)。 第一個(gè)64K RAM測試正在進(jìn)行。
0A 使視頻接口作初始準(zhǔn)備。 發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。 第一個(gè)64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。
0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖／解鎖命令。 第一個(gè)64K RAM奇／偶邏輯失靈。
0C 測試8254通道1。 鍵盤控制器引腳23、24已封鎖／解鎖；已發(fā)出NOP命令。 第一個(gè)64K RAN的地址線故障。
0D 1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時(shí)鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。3、視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。 已處理NOP命令；接著測試CMOS停開寄存器。 第一個(gè)64K RAM的奇偶性失靈
0E 測試CMOS停機(jī)字節(jié)。 CMOS停開寄存器讀／寫測試；將計(jì)算CMOS檢查總和。 初始化輸入／輸出端口地址。
0F 測試擴(kuò)展的CMOS。 已計(jì)算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié)；CMOS開始初始準(zhǔn)備。 .
10 測試DMA通道0。 CMOS已作初始準(zhǔn)備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時(shí)間作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64K RAM第0位故障。
11 測試DMA通道1。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一個(gè)64DK RAM第1位故障。
12 測試DMA頁面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻顯示器并使端口B作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64DK RAM第2位故障。
13 測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用，端口B已作初始準(zhǔn)備；即將開始電路片初始化／存儲器自動(dòng)檢測。 第一個(gè)64DK RAM第3位故障。
14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化／存儲器處自動(dòng)檢測結(jié)束；8254計(jì)時(shí)器測試即將開始。 第一個(gè)64DK RAM第4位故障。
15 測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。 第2通道計(jì)時(shí)器測試了一半；8254第2通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第5位故障。
16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；8254第1通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第6位故障。
17 調(diào)準(zhǔn)視頻輸入／輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；8254第0通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第7位故障。
18 測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。 第0通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；即將開始更新存儲器。 第一個(gè)64DK RAM第8位故障。
19 測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。 第一個(gè)64DK RAM第9位故障。
1A 測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線路，即將檢查15微秒通／斷時(shí)間。 第一個(gè)64DK RAM第10位故障。
1B 測試CMOS電池電平。 完成存儲器更新時(shí)間30微秒測試；即將開始基本的64K存儲器測試。 第一個(gè)64DK RAM第11位故障。
1C 測試CMOS檢查總和。 . 第一個(gè)64DK RAM第12位故障。
1D 調(diào)定CMOS配置。 . 第一個(gè)64DK RAM第13位故障。
1E 測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。 . 第一個(gè)64DK RAM第14位故障。
1F 測試64K存儲器至最高640K。 . 第一個(gè)64DK RAM第15位故障。
20 測量固定的8259中斷位。 開始基本的64K存儲器測試；即將測試地址線。 從屬DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
21 維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性或輸入／輸出通道的檢查）。 通過地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
22 測試8259的中斷功能。 結(jié)束觸發(fā)奇偶性；將開始串行數(shù)據(jù)讀／寫測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
23 測試保護(hù)方式8086虛擬方式和8086頁面方式。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀／寫測試正常；即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽存器測試正在進(jìn)行或失靈。
24 測定1MB以上的擴(kuò)展存儲器。 矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷矢量的初始準(zhǔn)備。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。
25 測試除頭一個(gè)64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準(zhǔn)備；將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入／輸出端口。 裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。
26 測試保護(hù)方式的例外情況。 讀出8042的輸入／輸出端口；即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局?jǐn)?shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備。 開啟A20地址線；使之參入尋址。
27 確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。 全1數(shù)據(jù)初始準(zhǔn)備結(jié)束；接著將進(jìn)行中斷矢量之后的任何初始準(zhǔn)備。 鍵盤控制器測試正在進(jìn)行或失靈。
28 確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。 完成中斷矢量之后的初始準(zhǔn)備；即將調(diào)定單色方式。 CMOS電源故障／檢查總和計(jì)算正在進(jìn)行。
29 . 已調(diào)定單色方式，即將調(diào)定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行。
2A 使鍵盤控制器作初始準(zhǔn)備。 已調(diào)定彩色方式，即將進(jìn)行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內(nèi)存。
2B 使磁碟驅(qū)動(dòng)器和控制器作初始準(zhǔn)備。 觸發(fā)奇偶性結(jié)束；即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。 屏幕存儲器測試正在進(jìn)行或失靈。
2C 檢查串行端口，并使之作初始準(zhǔn)備。 完成視頻ROM控制之前的處理；即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕初始準(zhǔn)備正在進(jìn)行或失靈。
2D 檢測并行端口，并使之作初始準(zhǔn)備。 已完成任選的視頻ROM控制，即將進(jìn)行視頻ROM回復(fù)控制之后任何其他處理的控制。 屏幕回掃測試正在進(jìn)行或失靈。
2E 使硬磁盤驅(qū)動(dòng)器和控制器作初始準(zhǔn)備。 從視頻ROM控制之后的處理復(fù)原；如果沒有發(fā)現(xiàn)EGA／VGA就要進(jìn)行顯示器存儲器讀／寫測試。 檢測視頻ROM正在進(jìn)行。
2F 檢測數(shù)學(xué)協(xié)處理器，并使之作初始準(zhǔn)備。 沒發(fā)現(xiàn)EGA／VGA；即將開始顯示器存儲器讀／寫測試。 .
30 建立基本內(nèi)存和擴(kuò)展內(nèi)存。 通過顯示器存儲器讀／寫測試；即將進(jìn)行掃描檢查。 認(rèn)為屏幕是可以工作的。
31 檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準(zhǔn)備。 顯示器存儲器讀／寫測試或掃描檢查失敗，即將進(jìn)行另一種顯示器存儲器讀／寫測試。 單色監(jiān)視器是可以工作的。
32 對主板上COM／LTP／FDD／聲音設(shè)備等I／O芯片編程使之適合設(shè)置值。 通過另一種顯示器存儲器讀／寫測試；卻將進(jìn)行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監(jiān)視器（40列）是可以工作的。
33 . 視頻顯示器檢查結(jié)束；將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實(shí)際插卡檢驗(yàn)顯示器的關(guān)型。 彩色監(jiān)視器（80列）是可以工作的。
34 . 已檢驗(yàn)顯示器適配器；接著將調(diào)定顯示方式。 計(jì)時(shí)器滴答聲中斷測試正在進(jìn)行或失靈。
35 . 完成調(diào)定顯示方式；即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 停機(jī)測試正在進(jìn)行或失靈。
36 . 已檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)；即將調(diào)定通電信息的游標(biāo)。 門電路中A－20失靈。
37 . 識別通電信息的游標(biāo)調(diào)定已完成；即將顯示通電信息。 保護(hù)方式中的意外中斷。
38 . 完成顯示通電信息；即將讀出新的游標(biāo)位置。 RAM測試正在進(jìn)行或者地址故障＞FFFFH。
39 . 已讀出保存游標(biāo)位置，即將顯示引用信息串。 .
3A . 引用信息串顯示結(jié)束；即將顯示發(fā)現(xiàn)<ESC>信息。 間隔計(jì)時(shí)器通道2測試或失靈。
3B 用OPTI電路片（只是486）使輔助超高速緩沖存儲器作初始準(zhǔn)備。 已顯示發(fā)現(xiàn)＜ESC＞信息；虛擬方式，存儲器測試即將開始。 按日計(jì)算的日歷時(shí)鐘測試正在進(jìn)行或失靈。
3C 建立允許進(jìn)入CMOS設(shè)置的標(biāo)志。 . 串行端口測試正在進(jìn)行或失靈。
3D 初始化鍵盤／PS2鼠標(biāo)／PNP設(shè)備及總內(nèi)存節(jié)點(diǎn)。 . 并行端口測試正在進(jìn)行或失靈。
3E 嘗試打開L2高速緩存。 . 數(shù)學(xué)協(xié)處理器測試正在進(jìn)行或失靈。
40 . 已開始準(zhǔn)備虛擬方式的測試；即將從視頻存儲器來檢驗(yàn)。 調(diào)整CPU速度，使之與外圍時(shí)鐘精確匹配。
41 中斷已打開，將初始化數(shù)據(jù)以便于0：0檢測內(nèi)存變換（中斷控制器或內(nèi)存不良） 從視頻存儲器檢驗(yàn)之后復(fù)原；即將準(zhǔn)備描述符表。 系統(tǒng)插件板選擇失靈。
42 顯示窗口進(jìn)入SETUP。 描述符表已準(zhǔn)備好；即將進(jìn)行虛擬方式作存儲器測試。 擴(kuò)展CMOS RAM故障。
43 若是即插即用BIOS，則串口、并口初始化。 進(jìn)入虛擬方式；即將為診斷方式實(shí)現(xiàn)中斷。 .
44 . 已實(shí)現(xiàn)中斷（如已接通診斷開關(guān)；即將使數(shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備以檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)。） BIOS中斷進(jìn)行初始化。
45 初始化數(shù)學(xué)協(xié)處理器。 數(shù)據(jù)已作初始準(zhǔn)備；即將檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)以及找出系統(tǒng)存儲器的規(guī)模。 .
46 . 測試存儲器已返回；存儲器大小計(jì)算完畢，即將寫入頁面來測試存儲器。 檢查只讀存儲器ROM版本。
47 . 即將在擴(kuò)展的存儲器試寫頁面；即將基本640K存儲器寫入頁面。 .
48 . 已將基本存儲器寫入頁面；即將確定1MB以上的存儲器。 視頻檢查，CMOS重新配置。
49 . 找出1BM以下的存儲器并檢驗(yàn)；即將確定1MB以上的存儲器。 .
4A . 找出1MB以上的存儲器并檢驗(yàn)；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 進(jìn)行視頻的初始化。
4B . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)的檢驗(yàn)結(jié)束，即將檢查＜ESC＞和為軟復(fù)位清除1MB以上的存儲器。 .
4C . 清除1MB以上的存儲器(軟復(fù)位)即將清除1MB以上的存儲器. 屏蔽視頻BIOS ROM。.
4D 已清除1MB以上的存儲器（軟復(fù)位）；將保存存儲器的大小。 .
4E 若檢測到有錯(cuò)誤；在顯示器上顯示錯(cuò)誤信息，并等待客戶按＜F1＞鍵繼續(xù)。 開始存儲器的測試：（無軟復(fù)位）；即將顯示第一個(gè)64K存儲器的測試。 顯示版權(quán)信息。
4F 讀寫軟、硬盤數(shù)據(jù)，進(jìn)行DOS引導(dǎo)。 開始顯示存儲器的大小，正在測試存儲器將使之更新；將進(jìn)行串行和隨機(jī)的存儲器測試。 .
50 將當(dāng)前BIOS監(jiān)時(shí)區(qū)內(nèi)的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存儲器測試；即將高速存儲器的大小以便再定位和掩蔽。 將CPU類型和速度送到屏幕。
51 . 測試1MB以上的存儲器。 .
52 所有ISA只讀存儲器ROM進(jìn)行初始化，最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。 已完成1MB以上的存儲器測試；即將準(zhǔn)備回到實(shí)址方式。 進(jìn)入鍵盤檢測。
53 如果不是即插即用BIOS，則初始化串口、并口和設(shè)置時(shí)種值。 保存CPU寄存器和存儲器的大小，將進(jìn)入實(shí)址方式。 .
54 . 成功地開啟實(shí)址方式；即將復(fù)原準(zhǔn)備停機(jī)時(shí)保存的寄存器。 掃描“打擊鍵”
55 . 寄存器已復(fù)原，將停用門電路A－20的地址線。 .
56 . 成功地停用A－20的地址線；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 鍵盤測試結(jié)束。
57 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半；繼續(xù)進(jìn)行。 .
58 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將清除發(fā)現(xiàn)＜ESC＞信息。 非設(shè)置中斷測試。
59 . 已清除＜ESC＞信息；信息已顯示；即將開始DMA和中斷控制器的測試。 .
5A . . 顯示按“F2”鍵進(jìn)行設(shè)置。
5B . . 測試基本內(nèi)存地址。
5C . . 測試640K基本內(nèi)存。
60 設(shè)置硬盤引導(dǎo)扇區(qū)病毒保護(hù)功能。 通過DMA頁面寄存器的測試；即將檢驗(yàn)視頻存儲器。 測試擴(kuò)展內(nèi)存。
61 顯示系統(tǒng)配置表。 視頻存儲器檢驗(yàn)結(jié)束；即將進(jìn)行DMA＃1基本寄存器的測試。 .
62 開始用中斷19H進(jìn)行系統(tǒng)引導(dǎo)。 通過DMA＃1基本寄存器的測試；即將進(jìn)行DMA＃2寄存器的測試。 測試擴(kuò)展內(nèi)存地址線。
63 . 通過DMA＃2基本寄存器的測試；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 .
64 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半，繼續(xù)進(jìn)行。 .
65 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將把DMA裝置1和2編程。 .
66 . DMA裝置1和2編程結(jié)束；即將使用59號中斷控制器作初始準(zhǔn)備。 Cache注冊表進(jìn)行優(yōu)化配置。
67 . 8259初始準(zhǔn)備已結(jié)束；即將開始鍵盤測試。 .
68 . . 使外部Cache和CPU內(nèi)部Cache都工作。
6A . . 測試并顯示外部Cache值。
6C . . 顯示被屏蔽內(nèi)容。
6E . . 顯示附屬配置信息。
70 . . 檢測到的錯(cuò)誤代碼送到屏幕顯示。
72 . . 檢測配置有否錯(cuò)誤。
74 . . 測試實(shí)時(shí)時(shí)鐘。
76 . . 掃查鍵盤錯(cuò)誤。
7A . . 鎖鍵盤。
7C . . 設(shè)置硬件中斷矢量。
7E . . 測試有否安裝數(shù)學(xué)處理器。
80 . 鍵盤測試開始，正在清除和檢查有沒有鍵卡住，即將使鍵盤復(fù)原。 關(guān)閉可編程輸入／輸出設(shè)備。
81 . 找出鍵盤復(fù)原的錯(cuò)誤卡住的鍵；即將發(fā)出鍵盤控制端口的測試命令。 .
82 . 鍵盤控制器接口測試結(jié)束，即將寫入命令字節(jié)和使循環(huán)緩沖器作初始準(zhǔn)備。 檢測和安裝固定RS232接口（串口）。
83 . 已寫入命令字節(jié)，已完成全局?jǐn)?shù)據(jù)的初始準(zhǔn)備；即將檢查有沒有鍵鎖住。 .
84 . 已檢查有沒有鎖住的鍵，即將檢查存儲器是否與CMOS失配。 檢測和安裝固定并行口。
85 . 已檢查存儲器的大??；即將顯示軟錯(cuò)誤和口令或旁通安排。 .
86 . 已檢查口令；即將進(jìn)行旁通安排前的編程。 重新打開可編程I／O設(shè)備和檢測固定I／O是否有沖突。
87 . 完成安排前的編程；將進(jìn)行CMOS安排的編程。 .
88 . 從CMOS安排程序復(fù)原清除屏幕；即將進(jìn)行后面的編程。 初始化BIOS數(shù)據(jù)區(qū)。
89 . 完成安排后的編程；即將顯示通電屏幕信息。 .
8A . 顯示頭一個(gè)屏幕信息。 進(jìn)行擴(kuò)展BIOS數(shù)據(jù)區(qū)初始化。
8B . 顯示了信息：即將屏蔽主要和視頻BIOS。 .
8C . 成功地屏蔽主要和視頻BIOS，將開始CMOS后的安排任選項(xiàng)的編程。 進(jìn)行軟驅(qū)控制器初始化。
8D . 已經(jīng)安排任選項(xiàng)編程，接著檢查滑了鼠和進(jìn)行初始準(zhǔn)備。 .
8E . 檢測了滑鼠以及完成初始準(zhǔn)備；即將把硬、軟磁盤復(fù)位。 .
8F . 軟磁盤已檢查，該磁碟將作初始準(zhǔn)備，隨后配備軟磁碟。 .
90 . 軟磁碟配置結(jié)束；將測試硬磁碟的存在。 硬盤控制器進(jìn)行初始化。
91 . 硬磁碟存在測試結(jié)束；隨后配置硬磁碟。 局部總線硬盤控制器初始化。
92 . 硬磁碟配置完成；即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 跳轉(zhuǎn)到用戶路徑2。
93 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)已檢查一半；繼續(xù)進(jìn)行。 .
94 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查完畢，即調(diào)定基本和擴(kuò)展存儲器的大小。 關(guān)閉A－20地址線。
95 . 因應(yīng)滑鼠和硬磁碟47型支持而調(diào)節(jié)好存儲器的大?。患磳z驗(yàn)顯示存儲器。 .
96 . 檢驗(yàn)顯示存儲器后復(fù)原；即將進(jìn)行C800：0任選ROM控制之前的初始準(zhǔn)備。 “ES段”注冊表清除。
97 . C800：0任選ROM控制之前的任何初始準(zhǔn)備結(jié)束，接著進(jìn)行任選ROM的檢查及控制。 .
98 . 任選ROM的控制完成；即將進(jìn)行任選ROM回復(fù)控制之后所需的任何處理。 查找ROM選擇。
99 . 任選ROM測試之后所需的任何初始準(zhǔn)備結(jié)束；即將建立計(jì)時(shí)器的數(shù)據(jù)區(qū)或打印機(jī)基本地址。 .
9A . 調(diào)定計(jì)時(shí)器和打印機(jī)基本地址后的返回操作；即調(diào)定RS－232基本地址。 屏蔽ROM選擇。
9B . 在RS－232基本地址之后返回；即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之初始準(zhǔn)備。 .
9C . 協(xié)處理器測試之前所需初始準(zhǔn)備結(jié)束；接著使協(xié)處理器作初始準(zhǔn)備。 建立電源節(jié)能管理。
9D . 協(xié)處理器作好初始準(zhǔn)備，即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之后的任何初始準(zhǔn)備。 .
9E . 完成協(xié)處理器之后的初始準(zhǔn)備，將檢查擴(kuò)展鍵盤，鍵盤識別符，以及數(shù)字鎖定。 開放硬件中斷。
9F . 已檢查擴(kuò)展鍵盤，調(diào)定識別標(biāo)志，數(shù)字鎖接通或斷開，將發(fā)出鍵盤識別命令。 .
A0 . 發(fā)出鍵盤識別命令；即將使鍵盤識別標(biāo)志復(fù)原。 設(shè)置時(shí)間和日期。
A1 . 鍵盤識別標(biāo)志復(fù)原；接著進(jìn)行高速緩沖存儲器的測試。 .
A2 . 高速緩沖存儲器測試結(jié)束；即將顯示任何軟錯(cuò)誤。 檢查鍵盤鎖。
A3 . 軟錯(cuò)誤顯示完畢；即將調(diào)定鍵盤打擊的速率。 .
A4 . 調(diào)好鍵盤的打擊速率，即將制訂存儲器的等待狀態(tài)。 鍵盤重復(fù)輸入速率的初始化。
A5 . 存儲器等候狀態(tài)制定完畢；接著將清除屏幕。 .
A6 . 屏幕已清除；即將啟動(dòng)奇偶性和不可屏蔽中斷。 .
A7 . 已啟用不可屏蔽中斷和奇偶性；即將進(jìn)行控制任選的ROM在E000：0之所需的任何初始準(zhǔn)備。 .
A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始準(zhǔn)備結(jié)束，接著將控制E000：0之后所需的任何初始準(zhǔn)備。 清除“F2”鍵提示。
A9 . 從控制E000：0 ROM返回，即將進(jìn)行控制E000：0任選ROM之后所需的任何初始準(zhǔn)備。 .
AA . 在E000：0控制任選ROM之后的初始準(zhǔn)備結(jié)束；即將顯示系統(tǒng)的配置。 掃描“F2”鍵打擊。
AC . . 進(jìn)入設(shè)置.
AE . . 清除通電自檢標(biāo)志。
B0 . . 檢查非關(guān)鍵性錯(cuò)誤。
B2 . . 通電自檢完成準(zhǔn)備進(jìn)入操作系統(tǒng)引導(dǎo)。
B4 . . 蜂鳴器響一聲。
B6 . . 檢測密碼設(shè)置（可選）。
B8 . . 清除全部描述表。
BC . . 清除校驗(yàn)檢查值。
BE 程序缺省值進(jìn)入控制芯片，符合可調(diào)制二進(jìn)制缺省值表。 . 清除屏幕（可選）。
BF 測試CMOS建立值。 . 檢測病毒，提示做資料備份。
C0 初始化高速緩存。 . 用中斷19試引導(dǎo)。
C1 內(nèi)存自檢。 . 查找引導(dǎo)扇區(qū)中的“55”“AA”標(biāo)記。
C3 第一個(gè)256K內(nèi)存測試。
C5 從ROM內(nèi)復(fù)制BIOS進(jìn)行快速自檢。
C6 高速緩存自檢。
CA 檢測Micronies超速緩沖存儲器（如果存在），并使之作初始準(zhǔn)備。
CC 關(guān)斷不可屏蔽中斷處理器。