LTTL-3DS型多功能缺陷熒光光譜儀

LTTL-3DS型多功能缺陷熒光光譜儀是北京熠新科技針對(duì)測(cè)量固體發(fā)光材料三維光譜的測(cè)量裝置。熱釋光三維發(fā)光譜，即包含溫度和波長與發(fā)光強(qiáng)度的三維圖譜的測(cè)定有助于識(shí)別發(fā)光中心的類型和了解相關(guān)的缺陷結(jié)構(gòu)，為了解熱釋光的發(fā)光機(jī)制研究提供更加豐富的參數(shù)。LTTSL-3DS型增加了激發(fā)光源，包括X射線、紫外光源和紅外光源等，以及制冷型高靈敏穩(wěn)定性探頭以提高三維光譜品質(zhì)，也可以測(cè)量光激發(fā)下的材料發(fā)光譜。
儀器可以實(shí)現(xiàn)液氮溫度(80K)到高溫（773K）的溫度控制，能夠?qū)Πl(fā)光材料中的淺能級(jí)陷阱進(jìn)行分析，特別適合閃爍體、長余輝材料等發(fā)光材料的研究工作。儀器質(zhì)量可靠，造形美觀，使用方便，溫度控制穩(wěn)定精確，涉及多項(xiàng)專利技術(shù)。儀器采用了模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)用戶需求增減，可滿足不同層次的客戶需求。
主要技術(shù)性能：
l 實(shí)現(xiàn)多種測(cè)量模式：
1) 熱釋光三維光譜
2) 熱釋光發(fā)光曲線
3) 光釋光三維光譜
4) 光釋光發(fā)光曲線
5) 輻射發(fā)光光譜測(cè)量
6) 余輝衰減光譜測(cè)量
7) 余輝衰減曲線測(cè)量
8) X射線熒光譜測(cè)量
l 原位X射線、紫外光激發(fā)方式，X光管管電壓：0-50kV，管電流：0-200μA，參數(shù)可調(diào)；
l 光譜測(cè)量采用高靈敏度CCD光譜測(cè)量系統(tǒng)，波長測(cè)量范圍：350－1000nm(可選配)；
l 波長測(cè)量分辨率：1-10nm（取決于光柵和狹縫）；
l 測(cè)量探頭：?jiǎn)喂庾覲MT探測(cè)器，光譜響應(yīng)范圍300-650nm，計(jì)數(shù)率線性范圍大于2×106/s
l 液氮制冷系統(tǒng)；
l 采用高穩(wěn)定性加熱器，溫度測(cè)量范圍：80K－773K，升溫速率范圍：0.1-5K/s，溫度穩(wěn)定度：小于±0.5K（60s連續(xù)觀測(cè)）；
l 可設(shè)置輻照激發(fā)、預(yù)熱、測(cè)量和退火等多種測(cè)量階段，每段溫度、時(shí)間、升溫速率都可調(diào)；
l 樣品尺寸： 直徑小于10mm，厚度小于1mm；
l 可選配連續(xù)譜光源（選配單色儀，氙燈），可選不同波段激光光源；
l USB數(shù)據(jù)接口；
l 儀器輸出數(shù)據(jù)格式:包含二進(jìn)制和文本格式，可供數(shù)據(jù)分析軟件進(jìn)一步分析；
l 控制軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows XP、Windows7等操作系統(tǒng)。提供曲線查看，三維光譜顯示和升溫曲線顯示等功能；
l 儀器參數(shù)設(shè)置刻度：包括加熱系統(tǒng)和光譜系統(tǒng)的刻度參數(shù)；
l 本底自動(dòng)扣除功能，可以設(shè)定測(cè)量本底信號(hào)的時(shí)間；
l 提供配套的熱釋光分析軟件，內(nèi)置熱釋光一級(jí)、二級(jí)、一般極動(dòng)力學(xué)模型，并可進(jìn)一步對(duì)發(fā)光曲線進(jìn)行擬合、解譜分析等；
l 輸入電源：AC220±10% 50/60Hz，最大功率500W。