固態(tài)硬盤一年不通電，數(shù)據(jù)會自動消失?

之前網(wǎng)上有人說，為什么機(jī)械硬盤比固態(tài)硬盤更適合于長時間存儲數(shù)據(jù)呢？因為固態(tài)硬盤長時間不通電，數(shù)據(jù)就會沒有了，所以這是真的嗎？當(dāng)然這是謠言，但其實這個也看出來了，輿論對于固態(tài)硬盤存儲數(shù)據(jù)的可靠性一直存在著很大的爭議。

首先了解到，固態(tài)硬盤究竟有哪些特性。之前宏旺半導(dǎo)體說過，固態(tài)硬盤(Solid State Disk或Solid State Drive)，也稱作電子硬盤或者固態(tài)電子盤，是由控制單元和固態(tài)存儲單元(DRAM或FLASH芯片)組成的硬盤。大家知道傳統(tǒng)的硬盤通過磁頭讀取磁盤來完成數(shù)據(jù)的讀寫，在高速旋轉(zhuǎn)過程中，磁盤和磁頭之間的碰撞更容易造成數(shù)據(jù)損壞，并且磁盤在運(yùn)輸過程中容易損壞。數(shù)據(jù)丟失，固態(tài)硬盤沒有盤片，只要芯片沒有變形，數(shù)據(jù)就可以安全存儲。

關(guān)于固態(tài)硬盤長時間不通電，數(shù)據(jù)會丟失的情況，有業(yè)界人士曾經(jīng)做過相關(guān)的研究從研究的結(jié)果來看，在溫度在30度的環(huán)境下，數(shù)據(jù)經(jīng)過52周即有可能出現(xiàn)數(shù)據(jù)丟失。如果把溫度提升至35度，周期縮減一半至26周；如果把溫度提升至55度，那2周內(nèi)就有可能丟失。但需要說明，52周（1年）期限是一個底線，它是在閃存標(biāo)稱耐久度用盡后在極端環(huán)境下測試的結(jié)果。在閃存較新的情況下，這個時間會延長很多倍。

從SSD存儲原理上可以了解到，固態(tài)硬盤是以浮柵內(nèi)電子數(shù)量形成的電壓來區(qū)分?jǐn)?shù)據(jù)‘0’和‘1’的。隨著環(huán)境溫度的升高，不通電情況下固態(tài)硬盤中的電子會開始從浮柵晶體管中逃離，最終會導(dǎo)致浮柵晶體管的電壓狀態(tài)改變，導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可讀。而在正常通電情況下，擦寫操作過程中電流量更高，可以保證浮柵晶體管的電壓穩(wěn)定性。

JEDEC標(biāo)準(zhǔn)組織也對已用盡的固態(tài)硬盤產(chǎn)品進(jìn)行了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，要求消費(fèi)級產(chǎn)品關(guān)機(jī)斷電后在30℃情況下至少要保存1年的時間，企業(yè)級產(chǎn)品關(guān)機(jī)斷電后在40℃情況下至少保存3個月時間。

宏旺半導(dǎo)體總結(jié)一下，謠言中所述的固態(tài)硬盤不通電會損壞情況的，是基于產(chǎn)品達(dá)到最大設(shè)計使用壽命之后，把固態(tài)硬盤斷電放置在高溫環(huán)境下才會出現(xiàn)的。正常在保修期內(nèi)和未達(dá)到TBW使用量的產(chǎn)品完全不需要有這種過度的擔(dān)心。所以，放心使用固態(tài)硬盤吧。固態(tài)硬盤之所以能夠普及，是因為它技術(shù)足夠成熟，天性特性也決定比機(jī)械硬盤更耐用。

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